菲希爾測(cè)厚儀一般測(cè)量原理

DUALSCOPE FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀由于采用了磁感應(yīng)和電渦流兩種方法，且具有自動(dòng)識(shí)別基材的功能，這臺(tái)通用型儀器可以測(cè)量鐵/鋼上、非磁性金屬基材上和非導(dǎo)電基材上眾多涂鍍層的厚度。DUALSCOPE FMP20 使用帶曲率補(bǔ)償功能的探頭。

DUALSCOPE FMP20 涂鍍層測(cè)厚儀聲名遠(yuǎn)播的手提式儀器和插拔式探頭的新一代產(chǎn)品問世了，可以用來無損、高精度測(cè)量涂鍍層厚度。從我們的新產(chǎn)品系列中選擇一款含智慧型探頭的涂鍍層測(cè)厚儀可以滿足您特定的測(cè)量需求。

新一代手提式儀器 FMP20配上種類繁多的插拔式探頭提供精確的測(cè)量。除了用戶只能創(chuàng)建一個(gè)應(yīng)用程式外，這些儀器操作簡單、堅(jiān)固耐用，幾乎適合每一種涂鍍層的測(cè)厚要求，這些應(yīng)用包括廣泛的噴涂工件和特殊的復(fù)雜涂層。FMP20系列也具有一般的統(tǒng)計(jì)評(píng)估功能。

Fischer  公司50 多年來，德國 Helmut Fischer GmbH Institutefor Electronics and Metrology 公司致力于提供滿足高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)解決方案的檢測(cè)儀器。所有儀器繼續(xù)在德國Sindelfingen總部工廠研發(fā)和生產(chǎn)。我們已取得DIN ISO 9001：2000認(rèn)證，我們的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室也取得DKD認(rèn)證。

菲希爾測(cè)厚儀一般測(cè)量原理

FISCHER消費(fèi)的涂鍍層測(cè)厚儀主要分為：X射線涂鍍層測(cè)厚及資料剖析儀、β射線測(cè)厚儀、電渦流法測(cè)厚儀、電磁感應(yīng)測(cè)厚儀、庫侖法（多層鎳電位差）測(cè)厚儀，除此之外還有包括 微納米硬度測(cè)試儀、電導(dǎo)率測(cè)試儀、鐵素體含量測(cè)試儀、孔隙率測(cè)試儀 和 針孔測(cè)試儀 等在內(nèi)的多種測(cè)試儀器。

菲希爾測(cè)厚儀一般測(cè)量原理