菲希爾測厚儀Fischer X射線測厚儀特點
高性能機型，具有強大的綜合測量能力
配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析
由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位
菲希爾測厚儀Fischer X射線測厚儀典型應用領域
對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析
用于高校研究和工業研發領域
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蘇公網安備32021402002647
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