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          一文了解X射線熒光測厚儀測試過程及注意事項

          更新時間:2022-12-02   點擊次數:856次
            X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供準確、快速的分析。在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出好的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。
            X射線熒光測厚儀測量原理:
            當原子受到原級X射線或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位,原子內層電子重新配位,較外層的電子躍遷到內層空位,并同時放出次級X射線,即X射線熒光。X射線熒光的波長對不同元素是特征的,因此可以根據元素X射線熒光特征波長對元素做定性分析,根據元素釋放出來的熒光強度,來進行定量分析如元素厚度或含量分析。
            X射線熒光測厚儀測試過程及注意事項:
            1.儀器及附件均處開機狀態。
            2.在程序庫中選中與產品對應的曲線。
            3.打開儀器前蓋,臺面自動伸出。
            4.將樣品放入儀器臺面,測量大致位置對準儀器紅外對焦點。
            5.關閉儀器前蓋,儀器臺面自動歸位。
            6.在顯示器屏幕中用鼠標控制儀器臺面微調,精確對準測試位置。
            7.測試過程中指示燈亮紅,此時嚴禁打開儀器前蓋。
            8.測試時間十五秒主窗口及數據表中顯示測試產品厚度。
            9.指示燈熄滅,打開儀器前蓋,臺面自動伸出。取出樣品,完成測試。




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