FISCHERSCOPE X-RAY XDL是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從
大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。
比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。zui多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。
XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀典型的應用領域有：
?測量大規模生產的電鍍部件
?測量薄鍍層，例如裝飾鉻
?測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
?全自動測量，如測量印刷線路板
?分析電鍍溶液
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蘇公網安備32021402002647
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