菲希爾x射線測厚儀xdl 210/220/230/240

 菲希爾x射線測厚儀xdl 210/220/230/240

菲希爾x射線測厚儀xdl 210/220/230/240

Fischerscope xdl 210/220/230/240菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀簡介：
FISCHERSCOPE-X-RAY XDL是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。zui多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。X射線熒光光譜儀，用于對保護和裝飾涂料，量產的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量。菲希爾熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210適合鍍層厚度測量的耐用儀器，即使大測量距離也可以測量（DCM，范圍0-80mm）。配備一個固定的準直器和固定的濾片。適合測量點在1mm以上的應用；跟XUL類似。可選用自動測量的可編程工作臺

德國菲希爾鍍層分析儀在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用.用于電子元器件,半導體,PCB,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器等多個行業. 高性能、高精密、高分辨。實現了快速、精密、準確的X-射線鍍層測量儀器。世界光學準直器，可以同時測量多至4層的金屬鍍層的厚度和成分，測量厚度可以從埃（0.1nm）至微米（μm）。菲希爾鍍層分析儀也能測量多至24個元素的塊狀合金成分，其準確度、精密度和穩定性，用于微電子器件、數據偶合器、光通訊和數據貯存、半導體、光通訊、微電子、光子學、無源器件和薄層磁頭金屬化分析等。此儀器能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任. 輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業