Fischerscope XDL210菲希爾測厚儀

Fischerscope XDL210菲希爾測厚儀

Fischerscope XDL210菲希爾測厚儀

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。zui多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

X-RAY XUL/ XULM

X-RAY XAN 

X-RAY XAN 500 

X-RAY XDL/ XDLM

X-RAY XDAL 

X-RAY XDV SDD 

X-RAY XDV-μ / XDV-μ LD 

X-RAY XUV 773

無錫駿展儀器有限責任公司的產品和系統解決方案廣泛應用于大中型國有企業、汽車制造、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設、大學和其他研究實驗室和生產線,質量控制,和教育事業,以評估的幾何特征的材料,組件和結構和理化性質,*制造技術的驅動精益求精。

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。

XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

X射線測厚儀|X-RAY鍍層分析儀|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應用領域有：

測量大規模生產的電鍍部件

測量薄鍍層，例如裝飾鉻

測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

全自動測量，如測量印刷線路板

分析電鍍溶液