菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN

菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN

菲希爾測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

XDL型X 射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。

XDL系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210典型的應用領域有：

FISCHERSCOPEX-RAYXAN測量大規模生產的電鍍部件

FISCHERSCOPEX-RAYXAN測量薄鍍層，例如裝飾鉻

菲希爾x射線測厚儀測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

菲希爾x射線測厚儀測量全自動測量，如測量印刷線路板

菲希爾x射線測厚儀測量分析電鍍溶液

XDL型X射線光譜儀有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。X射線熒光光譜儀，用于對保護和裝飾涂料，量產的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量。菲希爾熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210適合鍍層厚度測量的耐用儀器，即使大測量距離也可以測量（DCM，范圍0-80mm）。配備一個固定的準直器和固定的濾片。適合測量點在1mm以上的應用；跟XUL類似。可選用自動測量的可編程工作臺

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