X熒光射線測厚儀

X熒光射線測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XULM菲希爾X射線測厚儀是性能好、設計緊湊、應用廣泛的X射線熒光鍍層及材料分析儀。Fischerscope X-ray常用于無損測量細小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質(zhì)量管控、來料檢驗及生產(chǎn)過程控制中測量使用。

Fischerscope X-ray菲希爾X射線測厚儀是用戶界面友好的臺式測量儀, 配備手動XY軸工作臺，用于細小樣品的精確定位。

Fischerscope X-ray XULM240菲希爾X射線測厚儀具備4個可切換準直器, 3個可切換基本濾片, 采用比例接收器, 高分辨率CCD彩色攝像頭，手動聚焦，LED亮度可調(diào)節(jié)

Fischerscope X-ray菲希爾X射線測厚儀使用時溫度范圍10℃-40℃，空氣相對濕度≤95%，無結(jié)露

X熒光射線測厚儀

已被證明的無損測厚儀：移動厚度測量的FMP系列。超過70個可選探頭，您將找到適合大多數(shù)測量任務的正確解決方案。不同的測試方法保證了鋼材上涂層厚度和有色金屬上涂層厚度的精確測量。手持測厚儀的FMP10到FMP40系列，為您提供最大的靈活性，滿足測厚需求。 

我們提供以下型號：DELTASCOPE®磁感應法、ISOSCOPE®渦流法和DUALSCOPE®磁感應法和渦流法兩用。