Fischerscope X-RAY XDL230

Fischerscope X-RAY XDL230

Fischerscope X-RAY XDL230

菲希爾測厚儀通用規格

菲希爾x射線測厚儀設計用途：能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液分析。

菲希爾x射線測厚儀元素范圍：從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM? BASIC軟件時， 多可同時測定24種元素

菲希爾x射線測厚儀設計理念：臺式儀器，測量門向上開啟

Fischer x射線測厚儀測量方向：由上往下

菲希爾x射線測厚儀X射線源

X射 帶鈹窗口的鎢管

高壓： 三檔： 30 kV，40 kV，50 kV

孔徑（準直器）： ? 0.3 mm 可選 0.1 mm； ? 0.2 mm；長方形0.3 mm x 0.05 mm

測量點尺寸：取決于測量距離及使用的準直器大小， 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致 小的測量點大小約? 0.2mm

X射線探測

X射線接收器：測量距離

比例接收器：0 ~ 80 mm，使用保護的DCM測量距離補償法

菲希爾鍍層測厚儀樣品定位

菲希爾鍍層測厚儀視頻系統：高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦，對被測位置進行監控十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸） 可調節亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品

菲希爾鍍層測厚儀放大倍數：40x – 160x

菲希爾鍍層測厚儀電氣參數

電源要求：220 V ，50 Hz

功率: 120 W （不包括計算機）

保護等級:IP40

尺寸規格

外部尺寸：寬×深×高[mm]：570×760×650

菲希爾X射線測厚儀內部測量室尺寸：寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品 高度"部分的說明）

菲希爾X射線測厚儀重量：107 kg

菲希爾X射線測厚儀環境要求

使用時溫度：10°C – 40°C

Fischer x射線測厚儀存儲或運輸時溫度：0°C – 50°C

Fischer x射線測厚儀空氣相對濕度：≤ 95 %，無結露

Fischer x射線測厚儀工作臺

設計：手動X/Y平臺

X/Y平臺 移動范圍：95 x 150 mm

可用樣品放置區域：420 x 450 mm

Z軸：馬達驅動

Z軸移動范圍：140 mm

樣品 重量：20kg

樣品 高度：140 mm

激光（1級）定位點：有

計算單元

計算機：帶擴展卡的WINOOWs?計算機系統

軟件標準： WinFTM? V.6 LIGHT

可選： WinFTM? V.6 BASIC，PDM，SUPER

執行標準CE合格標準：EN 61010

型式許可：作為受*保護的儀器 型式許可*符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-RV"法規的規定。