鍍層測厚儀

鍍層測厚儀

堅固，方便，小巧 -  DUALSCOPE MP0/DUALSCOPE MP0R菲希爾涂層測厚儀系列。 使用磁感應(yīng)或渦流方法進(jìn)行移動，準(zhǔn)確和非破壞性涂層厚度測量。FISCHER的專業(yè)測量技術(shù)，設(shè)計緊湊。 具有兩個矩形放置顯示器和明亮的照明，具有出色的可讀性。 非常適合快速可靠和準(zhǔn)確的測量 - 也適用于難以接近的區(qū)域或不佳照明等困難條件下。 提供各種版本：

DUALSCOPE MP0：用于測量黑色金屬或有色金屬材料上的涂層。

DUALSCOPE MP0R：帶有額外的無線和USB接口，用于向PC傳輸數(shù)據(jù)

DUALSCOPE MP0R-FP：帶固定電纜探頭，無線電和USB接口

MPOR-FP薄膜測厚儀雖然體積小，但具有電磁和渦流兩種自動切換功能。它會自動確定底層金屬是磁性的還是非磁性的，并自動更改測量方法以進(jìn)行測量。通過新的導(dǎo)航和圖形顯示，直觀操作非常容易。測量幾乎不受工件形狀和磁導(dǎo)率的影響。袖珍型涂層測厚儀– MPOR-FP是與PC結(jié)合在一起的袖珍儀器，可以對所有金屬進(jìn)行合適且快速的涂層厚度測量。 涂層測厚儀-MP0R-FP具有專有的電導(dǎo)率補(bǔ)償功能，可用于計算非磁性基材。 涂層測厚儀-MP0R-FP由于其耐磨的結(jié)構(gòu)而便于攜帶，并且還確保在不利條件下工作時也不會失效。